Slider

Mikroskopie

Rasterelektronenmikroskop/ EDX:

Das Rasterelektronenmikroskop (REM) gehört zu den Elektronenmikroskopen und ist mit einem EDX (Energiedispersives Röntgenspektroskop) zur Elementanalyse gekoppelt. Rasterelektronenmikroskope werden aufgrund ihrer großen Schärfentiefe und der hohen Auflösung eingesetzt.

Es liefert jedoch keine Farbinformation. Die Helligkeit der Bildelemente wird hauptsächlich von der Ordnungszahl beeinflusst, d. h. je schwerer das Element, desto heller erscheint die Probe. Es können Elemente von Bor bis Uran bestimmt werden.

Die meisten Kunststoffe sind nicht leitend und laden sich deshalb elektrostatisch auf, was zu einer gestörten Bildaufnahme führt. Dies kann durch einen Überzug mit einer dünnen, elektrisch leitenden Schicht aus Kohlenstoff oder Gold vermieden werden, die mit einem Sputtergerät aufgetragen wird.

Eine Möglichkeit zur Untersuchung von nicht leitfähigen Proben ohne Vorbehandlung ist die Verwendung der „low-vacuum“-Technik (Niedervakuumtechnik). Außerdem sollte die Probe zur Untersuchung am REM frei von Wasser, Lösungsmittel und anderen Stoffen sein, die im Vakuum ausgasen.

Unsere Probenkammer ist mit einem motorisierten Probentisch ausgestattet, der Proben bis zu einer Höhe von ca. 50 cm fassen kann. Größere Proben können in unserer Werkstatt mit diversen Trennmaschinen auf die entsprechende Größe zurechtgeschnitten werden.

Viele Problemstellungen wie beispielsweise eine falsche Schichtdicke oder fehlerhafte Lötstellen sind im Schliff besser zu erkennen als bei der Draufsicht. Deshalb verfügen wir über Schleif- und Poliermaschinen zur Erstellung von Schliffen.

Typische Anwendungen sind:
  • Identifikation von Rückständen auf Bauteilen
  • Dokumentation und Vermessung von Produkten
  • Bestimmung des Schichtaufbaus und der Schichtdicke z. B. von Kontakten
  • Bruch- und Fehleranalyse

Analoge und digitale Mikroskopie:

Lichtmikroskopie sind unerlässliche Hilfsmittel zur Dokumentation von Proben in der Metallographie. Je nach Anwendungsfall stehen speziell ausgestattete Mikroskope zur Verfügung:

Für die Probenpräparation steht ein Leica-Stereomikroskop mit dem Vergrößerungsbereich 10x bis 80x zur Verfügung. Durch einen hohen Arbeitsabstand ist das Mikroskop besonders gut zum Hantieren bzw. Herauspräparieren von Probenmaterial für weitergehende Analysen geeignet. Das Mikroskop ist mit einem Polfilter ausgestattet, um Spiegelungen auf metallischen Flächen zu minimieren.

Zur Bilderfassung stehen eine Digitalkamera sowie ein Adapter für Spiegelreflexkameras zur Verfügung.

Das Leitz Ortholux-Stereomikroskop ist mit einem 10x-Okular und mehreren Objektiven (5x, 10x, 20x, 50x, 100x ausgestattet, was einen Vergrößerungsbereich von 50x bis 1000x ergibt. Es lassen sich ein Polfilter, eine Blende sowie Farbfilter zuschalten. Als Lichtquelle dient eine Halogenlichtquelle (Auflicht). Bilder können über einen Adapter mittels Digitalkamera und Spiegelreflexkamera erfasst werden.

Das Keyence-Digitalmikroskop ist mit Objektiven 20-200x und 100-1000x ausgestattet. Der Koordinatentisch ist manuell in X- und Y-Richtung bewegbar, das Objektiv selbst kann in Z-Richtung sowie im Winkel zwischen -70° bis +70° um die Probe bewegt werden. Dies ermöglicht es, eine Probe von allen Seiten betrachten zu können, ohne sie selbst bewegen zu müssen.

Das Objektiv lässt sich in Z-Richtung über einen Schrittmotor verfahren. Dadurch können Bilder in verschiedenen Tiefenebenen aufgezeichnet und über die Software zu tiefenscharfen bzw. 3D-Profil-Aufnahmen zusammengesetzt werden.

Über die Software stehen zahlreiche Zusatzfunktionen zur Verfügung wie beispielsweise Bemaßung oder Beschriftung.

dhs-Cleanalyzer®:

Beim dhs-Cleanalyzer® handelt es sich um ein vollautomatisches System mit Zoom-Optik, bestehend aus Software und individueller Hardware. Das System wurde speziell für die normgerechte Restschmutz-Analyse zur Auswertung von Filtern entwickelt, um den Verunreinigungsgrad von Bauteilen zu bestimmen.