Fehleranalyse – Schlifferstellung

Die Erstellung von Querschliffen kann erforderlich sein, wenn Schädigungen auf der Oberfläche nicht erkennbar sind, sondern sich im Inneren eines Werkstoffes oder Bauteiles befinden. In unserem Labor stellen wir metallographische Querschliffe an unterschiedlichsten Materialien und Materialkombinationen her.

Die Untersuchung von Querschliffen kann in unserem Labor sowohl im Licht- als auch im Rasterelektronenmikroskop erfolgen. Optional ist eine Beschichtung der Querschliffe mit Gold oder Graphit möglich, um die Bildqualität im Rasterelektronenmikroskop zu verbessern. Durch die Niedervakuumoption unseres Gerätes ist ein Beschichten von nichtleitenden Proben jedoch nicht zwingend erforderlich.

Typische Anwendungsgebiete für Querschliffe sind:

  • Beurteilung elektronischer Bauteile nach Klimatests
  • Beurteilung von Lötverbindungen (Benetzung, Risse, Lunker)
  • Beurteilung von Bondverbindungen
  • Vermessung von Schichtdicken
  • Untersuchung von Klebeverbindungen (Abhebungen, Luftlöcher)