Rasterelektronenmikroskop/ EDX:

Das Rasterelektronenmikroskop (REM) gehört zu den Elektronenmikroskopen und ist mit einem EDX (Energiedispersives Röntgenspektroskop) zur Elementanalyse gekoppelt. Rasterelektronenmikroskope werden aufgrund ihrer großen Schärfentiefe und der hohen Auflösung eingesetzt.

Es liefert jedoch keine Farbinformation. Die Helligkeit der Bildelemente wird hauptsächlich von der Ordnungszahl beeinflusst, d. h. je schwerer das Element, desto heller erscheint die Probe. Es können Elemente von Bor bis Uran bestimmt werden.

Die meisten Kunststoffe sind nicht leitend und laden sich deshalb elektrostatisch auf, was zu einer gestörten Bildaufnahme führt. Dies kann durch einen Überzug mit einer dünnen, elektrisch leitenden Schicht aus Kohlenstoff oder Gold vermieden werden, die mit einem Sputtergerät aufgetragen wird.

Eine Möglichkeit zur Untersuchung von nicht leitfähigen Proben ohne Vorbehandlung ist die Verwendung der „low-vacuum“-Technik (Niedervakuumtechnik). Außerdem sollte die Probe zur Untersuchung am REM frei von Wasser, Lösungsmittel und anderen Stoffen sein, die im Vakuum ausgasen.

Unsere Probenkammer ist mit einem motorisierten Probentisch ausgestattet, der Proben bis zu einer Höhe von ca. 50 cm fassen kann. Größere Proben können in unserer Werkstatt mit diversen Trennmaschinen auf die entsprechende Größe zurechtgeschnitten werden.

Viele Problemstellungen wie beispielsweise eine falsche Schichtdicke oder fehlerhafte Lötstellen sind im Schliff besser zu erkennen als bei der Draufsicht. Deshalb verfügen wir über Schleif- und Poliermaschinen zur Erstellung von Schliffen.

Analoge und digitale Mikroskopie:

Wir besitzen verschiedene Licht- und Digitalmikroskope mit unterschiedlichen Vergrößerungsbereichen (bis zu 1000-fach). Diese setzen wir sowohl für die Probenpräparation als auch zur genauen Dokumentation der Proben ein.