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Fehleranalyse - Spurenanalyse

Neben der Untersuchung von Materialbestandteilen liegt im Bereich der Fehleranalytik das Hauptaugenmerk auf der Oberflächenanalytik. Bereits geringste Verunreinigungen an der Oberfläche von Bauteilen können zu Beschichtung- bzw. Haftungsproblemen oder erhöhten Leitfähigkeiten führen.

Deshalb ist eine Spurenanalytik in diesen Bereichen von großer Bedeutung, wir bieten u. a. folgende Analysen an:

Partikuläre Verunreinigungen(Partikel, Fasern):

  • Zählung und Vermessung von metallischen und nichtmetallischen Partikeln z. B. in Getriebeteilen
  • Bestimmung der Elementzusammensetzung von Partikeln mittels REM-EDX und IR-Mikroskopie
  • Klassifizierung von Fasern mittels IR-Mikroskopie (z. B. Baumwollfasern, Wolle)

Organische Verunreinigungen (Flecken, Filme, Trockenränder, Rückstände):

  • GC-MS-Untersuchung dünner Filme nach Herunterwaschen und Aufkonzentrierung
  • Identifizierung schwer- bis mittelflüchtiger organischer Flecken auf Bauteilen mittels IR-Spektroskopie
  • Bestimmung längerkettiger polarer Substanzen mittels LC-MS/MS

Anorganische Verunreinigungen (Flecke, Filme, Trockenränder, Rückstände, Materialien):

  • Bestimmung der Elementzusammensetzung von Rückständen mittels REM-EDX (z. B. Calcium, Sauerstoff und Schwefel bei Gips)
  • Bestimmung der ionischen Oberflächenbelastung von Leiterplatten oder Bauteilen mittels Ionenchromatographie und ICP-OES
  • Halogenbestimmung (Fluorid, Chlorid, Bromid, Iodid) auf Aluminiumdruckgussteilen mittel Ionenchromatographie
  • Halogenbestimmung in Kunststoffmaterialien nach Schöniger-Verbrennung
  • Chloridbestimmung in Ölen und Fetten mittels Elutionsverfahren (auf Wunsch auch weitere Ionen)

Kontakt

 

Telefon: 09132/75034-0

 

  • Ansprechpartner

    Christian Schad

    Geschäftsführer

  • Ansprechpartner

    Dr. Thomas Fürst

    Geschäftsführer

     

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    Christian Schad

    Geschäftsführer

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    Dr. Thomas Fürst

    Geschäftsführer

  • Ansprechpartner

    Christina Korbacher

    stellv. Leitung Industrie